Mentor Graphics：汽车如何推动新的可测性设计技术
汽车在线讯：随着人们对安全关键应用设备，尤其是汽车 IC（集成电路），提出了新的需求，DFT（可测性设计）技术又再次受到重视。越来越多的处理器被运用于汽车的刹车系统、发动机控制、平视显示器、导航系统和图像传感器等等。这些芯片必须满足非常高的质量和可靠性标准，所以芯片制造商也必须进行高水平的生产测试和系统内部测试。
如今有两种测试方法被众多安全关键设备开发商迅速采纳 -- 单元识别 (Cell-Aware) 自动测试向量生成 (ATPG) 法和 ATPG/逻辑内建自测试 (LBIST) 综合运用法。单元识别测试法可实现每百万缺陷数 (DPM) 为零的目标。
嵌入式压缩解压单元在设计上也可整合进线性反馈移位寄存器 (LFSR)，为逻辑内建自测试带来伪随机模式。逻辑内建自测试和嵌入式压缩逻辑都可通过相移位器为扫描链提供数据，这样逻辑得以完全共享。扫描链结果通过嵌入式压缩挤压到一起。该逻辑主要与逻辑内建自测试混合使用，减少进入一个签名计算器的扫描链结果数量。与单独进行嵌入式压缩和逻辑内建自测试相比，该共享逻辑可让控制器尺寸缩小20%至30%。混合使用嵌入式压缩和逻辑内建自测试的一大好处便是双方互补。例如，嵌入式压缩可实现非常高品质的生产测试。这意味着您需要较少的逻辑内建自测试点就可以提高随机抵抗性逻辑的可测性，这可缩小逻辑内建自测试点的面积。相反地，X-bounding 以及任何为逻辑内建自测试增加的测试点都可提高电路的可测性，并改善嵌入式压缩覆盖和模式计数结果。
Ron Press 是明导硅测试解决方案产品的技术营销经理。他在测试和 DFT（可测性设计）行业有着25年的经验，曾多次出席全球各地的 DFT 和测试研讨会。他发表了数十篇与测试相关的论文，是国际测试会议 (ITC) 指导委员会的成员、IEEE 计算机学会 的 Golden Core 成员以及 IEEE 的高级会员。Press 拥有多项减少引脚数测试和无毛刺的自由时钟切换的专利，并正在申请3D DFT 专利。
